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線(xiàn)性光耦合器和環(huán)路增益“陷阱”
線(xiàn)性光耦合器和環(huán)路增益“陷阱”
我正在檢查的電源在其反饋路徑中使用光耦合器來(lái)控制其輸出電壓。這是一種常見(jiàn)且成熟的設計方法，但反饋回路的無(wú)條件回路穩定性并不完全確定。
我決定以?xún)煞N方式測量光耦合器的傳遞函數，如下所示。我知道該器件的數據表提供了這種特性，但我想親自了解一下（圖 1）。
圖 1光耦合器傳遞函數測試設置。
1.33k 和 150 ohm 電阻恰好在手邊方便，所以我使用了它們。一對 1k 和 100 ohm 也足夠了，但那一刻我只是不想翻找。
這兩個(gè)測試結果似乎確實(shí)證實(shí)了數據表的介紹（圖 2）。
圖 2光耦合器傳遞函數測試結果。
圖 2 的上部跡線(xiàn)與圖 1 的上部草圖相配，下部跡線(xiàn)與下部草圖相配。注意到兩個(gè)測試結果的對稱(chēng)性令人欣慰。然而，經(jīng)過(guò)一些心理反思，我意識到有一個(gè)回路增益陷阱需要注意。
使用圖 2 的下部軌跡并測量傳遞函數斜率，我們看到以下內容（圖 3）：
圖 3傳遞函數的特寫(xiě)檢查。
光耦合器的“線(xiàn)性”特性不能太從字面上理解。設備的傳遞函數不會(huì )切換或類(lèi)似的東西，但輸出與輸入的一階導數，即輸出與輸入的斜率，會(huì )隨著(zhù)您放置設備工作 Q 點(diǎn)的位置而變化。我檢查的設備的可變性接近 19 dB。
如此大的增益變化可能會(huì )對反饋回路的整體傳遞函數產(chǎn)生“跺腳”效應，可能會(huì )將邊緣穩定的反饋回路推入條件不穩定狀態(tài)。
所有這一切的注意事項是確保檢查您為自己選擇的任何光耦合器的真實(shí)斜率以及您選擇設置其 Q 點(diǎn)的位置。