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    行業(yè)資訊

    用于制造驗證的電路板測試


    用于制造驗證的電路板測試

    電路板測試通常會(huì )讓人想起技術(shù)人員手持探頭和示波器檢查和調試組裝板的圖像。這些技術(shù)人員的工作是測試電路板的功能并尋找需要糾正的設計問(wèn)題或需要增強的電路性能。雖然這種測試方法是電子開(kāi)發(fā)周期的重要組成部分,但它并不是電路板將要經(jīng)歷的唯一驗證過(guò)程。 

    電路板的大規模生產(chǎn)需要結合自動(dòng)化和手動(dòng)元件組裝過(guò)程。這些過(guò)程將部件放置在板上,然后將它們焊接到位。驗證這些組裝過(guò)程的工作落在自動(dòng)電路板測試系統上,該系統確認電路板是否已正確制造。讓我們更深入地了解自動(dòng)化測試,以及電路板布局設計人員需要做什么才能最好地適應這種測試。

    自動(dòng)化電路板組裝:需要測試什么

    組裝印刷電路板可使用三種不同的自動(dòng)化工藝:波峰焊、回流焊和選擇性焊接。

    波峰焊

    主要用于通孔元件,電路板通過(guò)一波熔化的焊料,該焊料通過(guò)電路板的孔和插入的引腳周?chē)纬珊更c(diǎn)。波峰焊也可用于一些表面貼裝元件,但通常這些部件必須與波峰隔離。

    回流焊

    主要用于表面貼裝元件,零件通過(guò)由金屬焊料顆粒和具有粘性的助焊劑組成的焊膏粘合到板的金屬焊盤(pán)上。一旦所有組件就位,電路板就會(huì )通過(guò)烤箱并加熱,直到焊膏熔化或回流,在零件和電路板之間形成焊點(diǎn)。

    選擇性焊接

    該系統使用通過(guò)噴嘴從儲罐中泵出的熔融焊料將焊料直接沉積在指定位置。盡管比其他兩個(gè)系統慢,選擇性焊接可以實(shí)現波峰焊困難的通孔引腳的自動(dòng)化組裝。

    雖然今天沒(méi)有這些自動(dòng)化組裝過(guò)程就無(wú)法制造現代電子產(chǎn)品,但總是有可能出現焊接問(wèn)題。為了發(fā)現這些錯誤,使用自動(dòng)化測試來(lái)檢測每個(gè)組件引腳是否正確焊接到板上相應的引腳或孔中。以下是在自動(dòng)化PCB組裝過(guò)程中可能發(fā)生的一些焊接問(wèn)題:

    焊錫短路:由于當今使用的電子元件引腳數較多且引腳間距較小,因此兩個(gè)或多個(gè)引腳之間的焊料橋接的可能性增加。這種情況將導致橋接引腳之間的電氣短路。

    凹陷的焊點(diǎn):通孔有時(shí)無(wú)法保留通過(guò)孔吸上來(lái)的焊料,然后才能形成良好的焊點(diǎn)。在這種情況下,焊點(diǎn)很容易被破壞或根本不存在。

    焊料不足:當元件沒(méi)有為波峰焊進(jìn)行最佳放置時(shí),較大的部件有時(shí)會(huì )阻止它們后面的較小部件獲得足夠的焊料以實(shí)現良好的連接。

    不完整的連接:未針對回流焊優(yōu)化的電路板有時(shí)會(huì )抑制烤箱中適當的氣流,從而阻止某些連接獲得足夠的熱量以形成良好的焊點(diǎn)。

    為了發(fā)現這些焊點(diǎn)問(wèn)題,制造商依賴(lài)于自動(dòng)化PCB測試系統。接下來(lái),我們將了解這些系統是什么以及它們是如何使用的。 

    PCB CAD系統中標記的測試點(diǎn)位置

    自動(dòng)電路板測試系統的類(lèi)型

    檢查電路板的方法有很多種,從技術(shù)人員使用各種診斷工具進(jìn)行的手動(dòng)測試到不同的自動(dòng)測試系統。此外,還有用于視覺(jué)驗證PCB組裝的不同檢查工具。這些工具包括 X 射線(xiàn)設備和自動(dòng)光學(xué)檢測 (AOI) 系統。但是我們關(guān)注的自動(dòng)化測試系統涉及探測板上的指定點(diǎn)以驗證焊接連接,這可以分為兩種主要類(lèi)型:在線(xiàn)測試和飛針系統。

    在線(xiàn)測試

    通常稱(chēng)為 ICT 的在線(xiàn)測試系統使用獨特的夾具和精確放置的探針和相關(guān)的測試程序來(lái)測試開(kāi)發(fā)的每塊電路板。夾具的探針將接觸板上的每個(gè)測試點(diǎn),允許系統非??焖俚赝瑫r(shí)測試板上的所有連接。盡管大多數電路板是從底部進(jìn)行測試,但一些 ICT 系統會(huì )同時(shí)測試電路板的兩面。測試夾具旨在將電路板拉到帶有真空密封的彈簧加載探針上,以確保探針與電路板上相應測試點(diǎn)的電氣連接。

    ICT 固定裝置的開(kāi)發(fā)和構建既昂貴又耗時(shí),并且難以修改以匹配PCB設計中的增強或修改。出于這個(gè)原因,ICT系統通常用于大規模生產(chǎn)經(jīng)過(guò)驗證的設計,以快速測試大量電路板。除了組裝驗證任務(wù)外,ICT系統還可用于電路板的某些功能測試。

    飛針系統

    這些測試系統使用探針來(lái)測試ICT系統使用的電路板上的相同測試點(diǎn)。然而,不同之處在于飛針系統不使用昂貴的測試夾具。相反,它會(huì )在電路板上移動(dòng)一些探針來(lái)依次測試每個(gè)網(wǎng)絡(luò )。

    每個(gè)測試點(diǎn)的單獨測試導致飛針系統比ICT慢得多,并且沒(méi)有多個(gè)同時(shí)連接,它無(wú)法進(jìn)行功能測試。然而,飛針測試的亮點(diǎn)在于設置和費用,這是最小的。不僅電路板可以快速準備好進(jìn)行測試,而且對PCB設計的任何更改都可以輕松地重新編程到系統中。這使得飛針測試系統非常適合在開(kāi)發(fā)過(guò)程中經(jīng)歷多次設計變更和交互的電路板原型生產(chǎn)。飛針測試對于 ICT 無(wú)法容納的電路板或更大電路板的有限生產(chǎn)運行也很有用。

    既然我們已經(jīng)討論了用于驗證PCB組裝的測試系統類(lèi)型,現在是時(shí)候將我們的注意力轉移到用于此測試的電路板設計要求上。

    Cadence Allegro中設置可用于測試點(diǎn)的焊盤(pán)

    為自動(dòng)測試準備電路板布局

    我們一直在談?wù)撟詣?dòng)化測試系統的探針接觸板上每個(gè)電路的位置,這些接觸位置稱(chēng)為測試點(diǎn)。需要明確的是,測試點(diǎn)與實(shí)際探測點(diǎn)不同,實(shí)際探測點(diǎn)是技術(shù)人員可以輕松訪(fǎng)問(wèn)的位置,以探測電路板的關(guān)鍵網(wǎng)絡(luò )。探針點(diǎn)通常用它們的網(wǎng)標記,例如“GROUND”,并且通常焊接有接線(xiàn)柱供技術(shù)人員的測試線(xiàn)夾在上面。

    另一方面,測試點(diǎn)是電路板上暴露的金屬區域,周?chē)凶銐虻拈g隙供測試系統的探針接觸。如果板上有通孔部件,通孔引腳通常是測試點(diǎn)的首選。否則,可以將現有通孔標記為測試點(diǎn),或者可以根據需要添加新金屬焊盤(pán)并標記為測試點(diǎn)。在上圖中,您可以看到一些可用于典型 PCB CAD系統中測試點(diǎn)的焊盤(pán)組選擇。測試點(diǎn)焊盤(pán)通常是圓形的,但設計人員有時(shí)會(huì )使用方形形狀,以便在成品PCB上更容易找到它們。許多不同類(lèi)型的探針可用于自動(dòng)測試,包括錐形、扁平、球形或其他類(lèi)型,具體取決于測試點(diǎn)是金屬焊盤(pán)、通孔還是通孔引腳。

    在將通孔或過(guò)孔標記為測試點(diǎn)或添加測試點(diǎn)焊盤(pán)時(shí),PCB布局工程師需要牢記一些設計規則:

    網(wǎng)格:一些制造商更喜歡測試點(diǎn)在網(wǎng)格上,因此在開(kāi)始電路板布局之前,請與您的組裝商核對。

    間距:這將根據您的制造商而變化,但測試點(diǎn)之間的間距為75密耳是一個(gè)很好的值。但是,安全的賭注是先檢查。

    間隙:這些也隨著(zhù)制造電路板的人員而變化,但制造商通常需要50密耳的組件和焊盤(pán)間隙,以及電路板邊緣100 密耳的間隙,以實(shí)現良好的真空壓降。

    板面:很多廠(chǎng)商可以同時(shí)測試板的兩面,但一定要先檢查。

    覆蓋范圍:對于完整的測試覆蓋范圍,設計的每個(gè)網(wǎng)絡(luò )都需要有一個(gè)測試點(diǎn)。

    一旦測試點(diǎn)完全安裝在印刷電路板布局上,您就可以創(chuàng )建制造商構建測試夾具或對系統進(jìn)行編程所需的測試點(diǎn)文件。該數據通常包含一個(gè)XY位置文件,其中包含電路板上的每個(gè)測試點(diǎn)及其分配到的網(wǎng)絡(luò )以及設計的完整網(wǎng)表。通常,可以從您正在使用的PCB CAD系統中自動(dòng)提取這些數據,以及我們接下來(lái)將探討的許多其他有用的測試點(diǎn)功能。

    可以在CadenceAllegro PCB編輯器中設置的一些測試點(diǎn)參數

    讓您的PCB設計工具發(fā)揮作用

    在開(kāi)始向設計添加測試點(diǎn)之前,CAD系統將具有多個(gè)可以設置的參數。這些將包括諸如指定測試點(diǎn)網(wǎng)格(如果需要)、選擇可以標記為測試點(diǎn)的設計元素以及可以考慮將哪些焊盤(pán)堆棧轉換為測試點(diǎn)位置等項目。您還可以設置將用于表示測試點(diǎn)標識參考的文本(同樣,僅當您需要它們時(shí)),以及與其他設計對象的唯一測試點(diǎn)間隙。您可以在CadenceAllegro PCB編輯器的自動(dòng)測試準備選項中看到其中一些選項,如上所示。

    設置好參數后,您可以開(kāi)始標記測試點(diǎn)位置。通常,這是自動(dòng)完成的,但您也可以手動(dòng)選擇將標記為測試點(diǎn)的設計元素。電路板測試完成后,您可以以制造商要求的文件格式導出測試點(diǎn)設計數據。

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